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x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點(diǎn)的面積，又能大幅加強(qiáng)射線的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析。 -
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