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產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱/型號(hào) 產(chǎn)品描述
  • 馬爾MarSurf PS1粗糙度儀優(yōu)質(zhì)代理

    更新時(shí)間:2022-04-26

    廠商性質(zhì):代理商

    馬爾MarSurf PS1粗糙度儀優(yōu)質(zhì)代理 該儀器適用于不同工業(yè)領(lǐng)域中測(cè)量表面粗糙度,特別是當(dāng)樣品過大不宜在實(shí)驗(yàn)室中測(cè)量的情況。 1.多語言顯示:屏幕上顯示所有信息,有14種語言可選 2.靈活性: 可在任何角度測(cè)量,水平、垂直、倒置,隨貨提供適合各種樣品符合標(biāo)準(zhǔn)的高度調(diào)節(jié)裝置。 3.整體式校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn):無需外部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),使用更加方便。
  • MarSurf M300粗糙度儀配件MarSurf MDR-2

    更新時(shí)間:2018-09-21

    廠商性質(zhì):代理商

    MarSurf M300粗糙度儀配件MarSurf MDR-2 惡劣的生產(chǎn)環(huán)境要求快速、簡(jiǎn)單的粗糙度測(cè)量,為了應(yīng)對(duì)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的具體要求,馬爾提供了有效的解決方案。它們與MarSurf M300系列粗糙度儀配合使用,校準(zhǔn)與存放模塊已包含在內(nèi)。
  • Mahr MarSurf PS1粗糙度儀測(cè)量時(shí)應(yīng)注意問題

    更新時(shí)間:2017-07-06

    廠商性質(zhì):代理商

    Mahr MarSurf PS1粗糙度儀測(cè)量時(shí)應(yīng)注意問題 (1)被測(cè)工件被測(cè)面處于水平位置及穩(wěn)定 (2)被測(cè)面干凈,無其他污垢雜質(zhì); (3)傳感器不用時(shí),必須放在其工具盒中; (4)被測(cè) 工件被測(cè)面不得小于粗糙度儀的Z小量程; (5)測(cè)量環(huán)境是否適合測(cè) 量,有沒有聲音,空氣快速流動(dòng),會(huì)不會(huì)產(chǎn)生共振;
  • Marsurf m 400粗糙度儀多少錢

    更新時(shí)間:2017-07-03

    廠商性質(zhì):代理商

    Marsurf m 400粗糙度儀多少錢 隨著對(duì)高質(zhì)量現(xiàn)場(chǎng)表面測(cè)量需求的增長(zhǎng),帶導(dǎo)塊測(cè)量不再滿足要求,而是被無導(dǎo)塊測(cè)量代替,特別是P輪廓和波紋度參數(shù)測(cè)量,無導(dǎo)塊測(cè)量尤其重要。MarSurf M 400 實(shí)現(xiàn)了即使復(fù)雜的測(cè)量工作,亦能容易處理 自動(dòng)置零取代了復(fù)雜的手動(dòng)置零,按開始鍵后儀器自動(dòng)置零并馬上開始測(cè)量。
  • marsurf ps1袖珍粗糙度儀可供貨

    更新時(shí)間:2017-05-25

    廠商性質(zhì):代理商

    marsurf ps1袖珍粗糙度儀可供貨 粗糙度儀PS1-技術(shù)參數(shù): 評(píng)定長(zhǎng)度IN* 1.25MM,4.0MM,12.50MM(0.050IN,0.15IN,0.50IN) 取樣長(zhǎng)度段數(shù)N* 1至25可選校準(zhǔn)功能 校準(zhǔn)功能 動(dòng)態(tài)校準(zhǔn) 內(nèi)存容量 Z多15個(gè)外形輪廓,Z多20.000個(gè)結(jié)果數(shù)據(jù) 其它功能 模塊化設(shè)置(源代碼保護(hù)),日期、時(shí)間 重量 400克(0.88磅) 尺寸 140mm*
  • Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀

    更新時(shí)間:2017-05-19

    廠商性質(zhì):代理商

    Perthometer S2一體化的袖珍型粗糙度儀 表面粗糙度測(cè)試儀,也稱為輪廓儀,測(cè)試儀,粗糙度計(jì),表面光潔度計(jì)或沖浪粗糙度測(cè)試儀,是用于檢查和測(cè)量機(jī)加工,磨削,磨削的平面,圓形,傾斜面和凹槽的表面粗糙度的設(shè)備,或拋光的金屬和非金屬表面。它用于商店,金屬加工,制造和質(zhì)量控制(QC)應(yīng)用中的計(jì)量。表面粗糙度測(cè)試是一種形式測(cè)量,它識(shí)別表面輪廓,例如凹槽和凹陷,通常稱為表面的峰和谷。粗糙度測(cè)試儀使用
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